REM User Meeting 2025 I Neuchâtel

Austausch, Innovation und praxisnahe Einblicke

Wie erreicht man höchste Reproduzierbarkeit in spezifischen Anwendungen? Wie lassen sich Analyseprozesse effizienter gestalten? Und wie können nanometrische Schichten – beispielsweise in Solarzellen – zuverlässig charakterisiert werden?

Diese und viele weitere Fragestellungen standen im Mittelpunkt unseres diesjährigen User Meetings in Neuenburg, das wir gemeinsam mit unseren französischsprachigen Kunden und Partnern durchführen durften.

Die Veranstaltung bot spannende Fachvorträge und praxisnahe Einblicke in aktuelle Entwicklungen rund um Materialanalyse, Charakterisierungstechniken und innovative Anwendungen. Beiträge von Microcity - Neuchâtel Innovation, Oxford Instruments, CSEM, ZEISS, HES-SO Valais-Wallis, Prüfmaschinen AG Prüfag, TECHNORAMA und EPFL zeigten eindrucksvoll, wie moderne Technologien Forschung und industrielle Prozesse unterstützen.

Besonderes Interesse galt den Live-Demonstrationen des ZEISS Gemini SEM 450, des COXEM EM40 sowie der ZEISS ZEN Software. Dabei wurden Optimierungsmöglichkeiten hinsichtlich Bildqualität, Prozessstabilität und Reproduzierbarkeit vorgestellt. Ergänzt wurde das Programm durch eine Raman-Session mit wertvollen Hinweisen für den praktischen Einsatz in Forschung und Entwicklung.

Ein herzliches Dankeschön gilt allen Teilnehmenden sowie unseren Referierenden Cyril Cayron, Aïcha Hessler-Wyser, Girard Hervé, Salomé Pires-Boyer, Aleksi Bossart, Brice Lopez, Micol P., Julien Toquant, Radek Jankele, Maxime Brülhart und Marco Cantoni für den inspirierenden Austausch und die spannenden Beiträge.

Wir freuen uns bereits auf das nächste User Meeting und den weiteren gemeinsamen Austausch innerhalb unserer Community.