Die Produkte von Oxford Instruments im Bereich NanoAnalytik bieten hochmoderne Werkzeuge zur Materialcharakterisierung bis hinunter in den Nanometerbereich.
Die EDX Detektoren werden in Elektronenmikroskopen (REM und TEM) sowie Ionenstrahlsystemen (FIB) eingesetzt und finden Anwendung in Forschung und Entwicklung für ein breites Spektrum akademischer und industrieller Anwendungen, darunter Halbleiter, erneuerbare Energien, Bergbau, Metallurgie und Forensik.
Die Produktpalette bietet mit dem Xplore einen Einstieg in die EDX Welt mit gutem Preis-/Leistungsverhältnis und ermöglicht mit dem UltimMax und dem UltimExtreme spezifische Konfigurationen für Highend Applikationen. Nicht zu vergessen der Unity BEX Detektor für unübertroffene Geschwindigkeiten und neue Sphären von EDX im Elektronenmikroskop.
