Ultim Max Infinity
Ultim Max Infinity
Der Ultim Max Infinity EDS-Detektor von Oxford Instruments wurde für die hochauflösende chemische Elementanalyse im Rasterelektronenmikroskop (REM) entwickelt. Das System kombiniert hohe Empfindlichkeit, schnelle Datenerfassung und präzise Röntgenspektroskopie, um die chemische Zusammensetzung von Materialien, Partikeln und Nanostrukturen zuverlässig zu bestimmen. Es eignet sich besonders für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiterforschung, Nanotechnologie und industriellen Qualitätskontrolle.
Mit Sensorflächen von 40 bis 170 mm² erfasst der Ultim Max Infinity auch bei niedrigen Beschleunigungsspannungen ausreichend Röntgensignale für detaillierte Analysen kleiner Strukturen. Die hohe Energieauflösung ermöglicht die zuverlässige Unterscheidung eng benachbarter Elementpeaks und unterstützt die Untersuchung leichter Elemente, komplexer Materialphasen und geringer Elementkonzentrationen. Die Tru-Q IQ Signalverarbeitung optimiert die Spektrenauswertung individuell für jeden Detektor.
In Kombination mit der AZtecLive-Software ermöglicht der Ultim Max Infinity die chemische Bildgebung in Echtzeit sowie quantitative Elementanalysen und hochauflösendes EDS-Mapping. Durch die Korrektur von Signalüberlagerungen und Messartefakten lassen sich chemische Verteilungen präzise darstellen. Das System unterstützt damit sowohl die schnelle Untersuchung grosser Probenbereiche als auch die detaillierte Charakterisierung komplexer Mikro- und Nanostrukturen.
- EDS/EDX-Detektor für qualitative und quantitative Elementanalysen im REM
- Sensorflächen von 40, 65, 100 und 170 mm²
- Energieauflösung von ≤ 46 eV bei C Kα und 50.000 cps
- Energieauflösung von ≤ 127 eV bei Mn Kα und 200.000 cps
- Elementnachweis von Beryllium (Be) bis Californium (Cf)
- Chemische Bildgebung in Echtzeit und EDS-Mapping mit AZtecLive
- Individuell optimierte Spektrenverarbeitung mit Tru-Q IQ
Produktübersicht
Lernen Sie den Ultim Max Infinity im Video kennen und erhalten Sie einen Einblick in die EDS-Detektortechnologie, die hohe Analysegeschwindigkeit und die Möglichkeiten der präzisen chemischen Elementanalyse im Rasterelektronenmikroskop.
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