Die CrossBeam-Systeme von Zeiss kombinieren Elektronen- (SEM) und Ionenstrahlmikroskopie (FIB) für hochauflösende Einblicke in die Tiefe. Durch automatisiertes Schneiden und Bildgebung entstehen präzise 3D-Tomographien für vielfältige Anwendungen in Materialforschung und Biologie.
