Crossbeam 350/550/750
Crossbeam 350/550/750
Rasterelektronenmikroskope FIB-SEM
In den CrossBeam Geräten von Zeiss wird eine Elektronensäule (SEM) mit einer Ionenstrahlsäule (FIB) kombiniert, um neben reiner Abbildung auch mit Gallium Ionen in die Tiefe schneiden zu können. Mittels Öffnen der Oberfläche gewinnen Sie Information aus der Tiefe in Nanometerauflösung! Durch eine automatisierte Abfolge von Schneiden und Bilderzeugung mit anschliessender Rekonstruktion werden dreidimensionale Tomographien erzeugt – eine hervorragende Methode nicht nur in der Biologie, sondern in einem breiten Spektrum von Anwendungen in der Materialforschung.
Rasterelektronenmikroskope mit fokussiertem Ionenstrahl oder kurz FIB-SEM von Carl Zeiss verbinden die 3D-Imaging- und Analysefähigkeiten der GEMINI Elektronensäule mit den Fähigkeiten eines FIB für die Materialverarbeitung und Probenpräparation im Nanomassstab.
Beschleunigen Sie Ihre Tomografieabläufe: Verwenden Sie bis zu 100 nA FIB-Strom (Crossbeam 750 bis zu 20 nA) mit dem exzellenten Punktprofil, um die Lücke zwischen Mikro- und Nano-Patterning zu schliessen.
Wir freuen uns auf Ihre Anfrage!
