Unity BEX
Unity BEX
Der Oxford Instruments Unity BEX kombiniert Rückstreuelektronen- (BSE) und Röntgenanalyse in einem Detektor. Dadurch lassen sich Mikrostruktur und Elementzusammensetzung gleichzeitig direkt im Rasterelektronenmikroskop (REM/SEM) visualisieren.
Die hohe Röntgensensitivität und schnelle Datenerfassung ermöglichen eine effiziente Elementanalyse – auch bei rauen, unpolierten oder anspruchsvollen Proben. Unity BEX eignet sich ideal für Materialwissenschaften, Metallurgie, Geologie, Halbleiter, Batteriematerialien und Forschung.
- Gleichzeitige BSE- und Röntgenanalyse
- Schnelles Element-Mapping
- Hohe Röntgensensitivität
- Weniger Abschattung bei schwierigen Proben
- Analyse bei niedrigen Strahlströmen
- Integration mit Oxford Instruments AZtec
Webinar-Tipp:
Erfahren Sie mehr über den Unity BEX-Detektor und die Kombination aus Rückstreuelektronen- und Röntgenbildgebung im Webinar von unserem Partner Oxford Instruments. Vorgestellt werden die Funktionsweise, die Vorteile der BEX-Technologie sowie praktische Anwendungsbeispiele.
Häufige Fragen
Was ist der Vorteil gegenüber klassischem EDS?
Elementinformationen können bereits während der SEM-Bildgebung erfasst werden. Dadurch lassen sich interessante Bereiche schneller erkennen und gezielt analysieren.
Für welche Proben eignet sich Unity BEX?
Unity eignet sich unter anderem für Metalle, Mineralien, Halbleiter, Batteriematerialien sowie raue oder unpolierte Proben.
Kann Unity BEX in bestehende REM-Systeme integriert werden?
Die Kompatibilität hängt vom jeweiligen Mikroskop und dessen Konfiguration ab. Wir unterstützten Sie gerne bei der Auswahl und Integration des passenden Systems
BEX-Technologie mit Unity
Erfahren Sie mehr über BEX. Das Video zeigt, wie die BEX-Technologie die SEM-Analyse durch die Kombination von Elektronen- und Röntgeninformationen erweitert. Erfahren Sie, welche Möglichkeiten der Unity BEX Detektor für eine schnelle, hochauflösende Materialanalyse bietet.
Wir freuen uns auf Ihre Anfrage!
