Xplore
Xplore
Der Xplore EDS-Detektor von Oxford Instruments wurde für die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS/EDX) im Rasterelektronenmikroskop (REM) entwickelt. Er ermöglicht die schnelle Identifikation und quantitative Analyse chemischer Elemente in unterschiedlichsten Materialien. Das kompakte Detektorsystem eignet sich besonders für Routineanalysen in der Materialwissenschaft, industriellen Qualitätskontrolle und Schadensanalyse.
Xplore nutzt die bewährte Detektortechnologie der Ultim Max Infinity Serie und kombiniert eine hohe Zählrate mit präziser Elementanalyse. Mit Sensorflächen von 15, 30 oder 65 mm² und einer garantierten Energieauflösung von weniger als 129 eV bei Mn Kα und 100.000 cps ermöglicht das System zuverlässige Messungen auch bei hohen Zählraten. Für das EDS-Mapping werden Zählraten von über einer Million cps unterstützt.
In Kombination mit der AZtecLive-Software ermöglicht Xplore die chemische Bildgebung in Echtzeit. Elementverteilungen und Probenstrukturen lassen sich gleichzeitig darstellen, wodurch sich unterschiedliche Materialphasen, Beschichtungen und Verunreinigungen schneller lokalisieren lassen. Die kompakte Bauweise erleichtert zudem die Integration in Rasterelektronenmikroskope mit begrenztem Platzangebot.
- EDS/EDX-Detektor für qualitative und quantitative Elementanalysen im REM
- Sensorflächen von 15, 30 und 65 mm²
- Garantierte Energieauflösung von weniger als 129 eV bei Mn Kα und 100.000 cps
- EDS-Mapping mit Zählraten von über 1.000.000 cps
- Chemische Bildgebung in Echtzeit mit AZtecLive
- Kompakte Bauweise für Forschung, Qualitätskontrolle und Schadensanalyse
Grundlagen der Elektronenmikroskopie und EDS-Analyse
Erfahren Sie im Video, wie Elektronen mit Materie wechselwirken, wie dabei Röntgenstrahlung entsteht und wie mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS) Elementanalysen und chemische Verteilungskarten erstellt werden.
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