AZtecFeature: Geschwindigkeit der Partikelanalyse

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Dauer: 20 mins  I  Sprache: Englisch  I  Gebiet: NanoAnalysis

Sie erfahren mehr über:

• Grundlagen der automatisierten Partikelanalyse im SEM
• Hochdurchsatzanalyse mit AZtecFeature
• Effiziente Workflows von der Probenaufnahme bis zur Berichterstellung
• Intelligente Funktionen zur Optimierung von Analysezeit und Durchsatz
• Kombination modernster EDS-Detektoren mit leistungsfähiger Software für präzise Partikelcharakterisierung

Die automatisierte Partikelanalyse im Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist eine leistungsstarke Methode zur Identifizierung, Charakterisierung und Klassifizierung von Partikeln in unterschiedlichsten Anwendungsbereichen – von Verschleisspartikeln und Kontaminationen in der Elektronikfertigung bis hin zu geologischen Proben und forensischen Untersuchungen. Durch die Kombination von Bildanalyse, energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS) und intelligenter Partikelklassifizierung lassen sich Tausende von Partikeln automatisiert analysieren und auswerten.

In diesem Webinar erfahren Sie, wie die Partikelanalyseplattform AZtecFeature von Oxford Instruments moderne Hard- und Softwaretechnologien kombiniert, um den gesamten Analyseprozess effizienter und einfacher zu gestalten. Sie lernen, wie sich Proben vom Einlegen in das Mikroskop bis zur automatisierten Berichterstellung mit hohem Probendurchsatz analysieren lassen und wie intelligente Funktionen die Messzeit gezielt auf relevante Partikel konzentrieren.

Anhand praxisnaher Beispiele wird gezeigt, wie sich die Leistungsfähigkeit aktueller EDS-Detektoren mit moderner Datenverarbeitung verbinden lässt, um schnelle, präzise und reproduzierbare Ergebnisse für unterschiedlichste Anwendungen zu erzielen.

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