TEM-Lamellenpräparation mit dem ZEISS Crossbeam FIB-SEM
TEM-Lamellenpräparation mit dem ZEISS Crossbeam FIB-SEM
Zeiss / REM Elektronenmikroskopie
Webinar Recording
TEM-Lamellenpräparation mit dem ZEISS Crossbeam FIB-SEM
Dauer: 45 mins I Sprache: Englisch I Gebiet: NanoAnalysis
Die Qualität der Probenpräparation ist ein entscheidender Faktor für aussagekräftige Ergebnisse in der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM). Insbesondere bei komplexen Materialien stellt die Herstellung hochwertiger TEM-Lamellen eine grosse Herausforderung dar. Moderne FIB-SEM-Systeme wie das ZEISS Crossbeam bieten in Kombination mit automatisierten Workflows neue Möglichkeiten, den Präparationsprozess effizienter, reproduzierbarer und schneller zu gestalten.
In diesem Webinar erfahren Sie von Prof. Dr. Dariusz Jarząbek (Polish Academy of Sciences / Warsaw University of Technology) und Martina Schenkel (Carl Zeiss Microscopy GmbH), wie sich hochwertige TEM-Lamellen auch für anspruchsvolle Materialsysteme zuverlässig herstellen lassen. Anhand praxisnaher Beispiele werden typische Herausforderungen bei der Präparation komplexer, mehrphasiger Werkstoffe sowie Strategien zur Vermeidung von Artefakten wie Re-Deposition, Biegung oder selektivem Sputtern vorgestellt.
Darüber hinaus lernen Sie die Möglichkeiten der TEM Prep Automation mit ZEN Core kennen. Sie erfahren, wie sich der komplette Workflow – vom Chunking und Lift-out bis hin zum Ausdünnen der Lamellen – automatisieren lässt und wie die Multisite-Lamellenpräparation den Probendurchsatz für unterschiedlichste Materialien deutlich erhöht. Live-Demonstrationen zeigen, wie automatisierte und manuelle Präparationsschritte flexibel kombiniert werden können, um optimale Ergebnisse für verschiedenste Forschungsanwendungen zu erzielen.
Sie erfahren:
- Grundlagen und Herausforderungen der TEM-Probenpräparation
- Automatisierte TEM-Lamellenpräparation mit ZEISS Crossbeam FIB-SEM und ZEN Core
- Multisite-Lamellenpräparation für einen höheren Probendurchsatz
- Strategien zur Vermeidung typischer Präparationsartefakte
- Praxisbeispiele für komplexe Werkstoffe und anspruchsvolle Materialanalysen
- Anwendungen für Chipcharakterisierung, optische Strukturen und weitere Forschungsbereiche
