MultiSEM
MultiSEM
Revolutionieren Sie die Geschwindigkeit der Elektronenmikroskopie
MultiSEM setzt die Aufnahmegeschwindigkeit von bis zu 91 parallelen Elektronenstrahlen frei. Jetzt können Sie Bilder im Zentimetermassstab mit Nanometerauflösung aufnehmen. Dieses einmalige Rasterelektronenmikroskop (REM) ist für einen kontinuierlichen, verlässlichen 24/7-Betrieb ausgelegt. Richten Sie einfach Ihren durchsatzstarken Datenerfassungs-Workflow ein, und MultiSEM nimmt ganz von alleine automatisch kontrastreiche Bilder auf.
Stemi Serie
Die Hochgeschwindigkeitskameras der FASTCAM SA-Serie bieten die notwendige Leistung, um die Bewegung der schnellsten Ereignisse zu stoppen, indem sie ultrahohe Bildraten und ultrakurze Belichtungszeiten nutzen.
Applikationen
MultiSEM 1 Gehirn einer Maus
MultiSEM 2 Gehirn einer Maus
MultiBeam 4 Gehirn einer Maus
MultiSEM 505 mehrere Strahlen
Häufige Fragen
Was sind die Unterschiede zwischen dem ZEISS EVO und einem COXEM SEM?
Das ZEISS EVO und COXEM Systeme unterscheiden sich vor allem in Leistungsfähigkeit, Flexibilität und Platzbedarf.
ZEISS EVO – Vorteile:
Das EVO bietet eine höhere Auflösung sowie eine größere Probenkammer und ist standardmäßig mit einem 5-Achs-motorisierten Tisch ausgestattet. Dank besserer Abschirmung ist es weniger anfällig für Umwelteinflüsse wie Vibrationen oder elektrische Felder. Zudem ist das System durch zusätzliche Ports flexibel für zukünftige Erweiterungen mit Detektoren ausgelegt.
ZEISS EVO – Einschränkungen:
Der Platzbedarf ist vergleichsweise groß.
COXEM – Vorteile:
COXEM Systeme sind kompakt, benötigen wenig Platz und sind besonders benutzerfreundlich. Dadurch eignen sie sich ideal für einfache Anwendungen und einen schnellen Einstieg.
COXEM – Einschränkungen:
Im Vergleich zum EVO sind sie empfindlicher gegenüber Umwelteinflüssen, verfügen über eine kleinere Probenkammer und bieten eine geringere Auflösung (<10 nm). Ein 5-Achs-Tisch ist nur mit zusätzlichem Probenhalter realisierbar.
Was sind die Unterschiede zwischen dem ZEISS EVO und dem ZEISS Sigma?
Das ZEISS Sigma und das ZEISS EVO decken unterschiedliche Anforderungen in der Rasterelektronenmikroskopie ab und bieten jeweils spezifische Vorteile.
ZEISS Sigma – Vorteile:
Das Sigma überzeugt durch eine höhere Auflösung, stärkere Strahlintensität und bessere Ergebnisse bei niedrigen kV. Die In-Lens-Detektion ermöglicht detaillierte Oberflächenanalysen. Erweiterte Funktionen wie ein 5-Achs-euzentrischer Tisch (Sigma 560), optionaler Airlock für schnellen Probentransfer sowie eine STEM-Option bieten zusätzliche Flexibilität. Zudem ist die Strahlführung einfacher und präziser zu handhaben.
ZEISS Sigma – Einschränkungen:
Für den Betrieb werden Druckluft und eine externe Kühlung benötigt. Zudem sind die Kosten für die Kathode und deren Austausch höher.
ZEISS EVO – Vorteile:
Das EVO punktet mit einfacherem Betrieb und geringeren Betriebskosten. Der Kathodenwechsel kann vom Anwender selbst durchgeführt werden. Dank Doppelkondensor und Luftkühlung ist das System robust und wartungsarm.
ZEISS EVO – Einschränkungen:
Im Vergleich zum Sigma sind Auflösung, Strahlintensität und Justierungsmöglichkeiten eingeschränkt.
Wir freuen uns auf Ihre Anfrage!
