MultiSEM
MultiSEM
Das ZEISS MultiSEM ist ein Multistrahl-Rasterelektronenmikroskop (Multi-Beam SEM) für die automatisierte, hochauflösende Bildgebung grosser Probenflächen. Im Unterschied zu konventionellen Rasterelektronenmikroskopen arbeitet das System mit zahlreichen parallelen Elektronenstrahlen. Dadurch können grosse Bilddatensätze mit hohem Durchsatz erfasst werden, ohne auf die für die Elektronenmikroskopie charakteristische Detailauflösung zu verzichten.
Die Multistrahl-Technologie eignet sich insbesondere für Untersuchungen, bei denen sehr grosse Probenbereiche mit nanometergrosser Detailauflösung dokumentiert werden müssen. Zu den Anwendungsgebieten gehören Connectomics, Neurowissenschaften, biologische Ultrastrukturforschung und die dreidimensionale Rekonstruktion von Gewebe aus seriellen Probenschnitten.
Das ZEISS MultiSEM verbindet parallele Bildaufnahme mit automatisierten Aufnahmeabläufen und digitaler Datenverarbeitung. Es unterstützt die systematische Erfassung grosser Probenserien und die Erstellung umfangreicher Bilddatensätze für quantitative Analysen und dreidimensionale Rekonstruktionen.
- 91 parallele Elektronenstrahlen für simultane Bildaufnahme
- Multistrahl-Rasterelektronenmikroskop mit paralleler Sekundärelektronendetektion
- 80 MHz Scan-System
- Pixel-Verweilzeit ab 12,5 ns
- Aufnahmerate von über 3 TB pro Stunde
- Bildgebung mit 4 nm Pixelgrösse auf grossen Probenflächen
- Aufnahme von 1 mm² in weniger als 2 Minuten bei 4 nm Pixelgrösse
- Probenhalter für Flächen bis 10 × 10 cm
Anwendungsbeispiele
Hirngewebe Maus
Hirngewebe Maus 2
Strahldarstellung
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