Xradia Versa
Xradia Versa
Die ZEISS Xradia Versa Systeme sind Röntgenmikroskope für die zerstörungsfreie dreidimensionale Untersuchung innerer Strukturen von Materialien und Proben. Sie ermöglichen hochauflösende 3D-Röntgenmikroskopie im Submikrometerbereich und eignen sich für Anwendungen, bei denen innere Strukturen detailliert analysiert werden sollen.
Die Vergrösserung wird sowohl über die geometrische Anordnung von Röntgenquelle, Probe und Detektor als auch über verschiedene optische Vergrösserungsstufen eingestellt. Ein Objektivrevolver ermöglicht die Auswahl unterschiedlicher Vergrösserungen und damit die gezielte Untersuchung relevanter Bereiche innerhalb einer Probe.
Die Kombination aus geometrischer und optischer Vergrösserung ermöglicht die Untersuchung unterschiedlicher Probengrössen und Strukturdimensionen mit hoher räumlicher Auflösung.
- Zerstörungsfreie 3D-Röntgenmikroskopie
- Räumliche Auflösung bis in den Submikrometerbereich
- Kombination aus geometrischer und optischer Vergrösserung
- Objektivrevolver für unterschiedliche Vergrösserungsstufen
- Dreidimensionale Analyse innerer Material- und Probenstrukturen
- Geeignet für Materialforschung und industrielle Anwendungen
Webinar-Tipp:
Dieses Webinar beleuchtet die Fortschritte im Bereich der Röntgenmikroskopie, die durch neue Entwicklungen bei der Messtechnik-Hardware und durch maschinelles Lernen unterstützte Rekonstruktionssoftware ermöglicht wurden, und zeigt aktuelle Anwendungsbeispiele aus den verschiedenen Disziplinen der Materialwissenschaft.
Zerstörungsfreie 3D-Bildgebung mit dem ZEISS 630 Versa
