GeminiSEM
GeminiSEM
Das ZEISS GeminiSEM ist eine Familie hochauflösender Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope (FE-REM / FE-SEM) für die Untersuchung von Oberflächen, Nanostrukturen und Materialeigenschaften. Die Systeme kombinieren die ZEISS Gemini-Elektronenoptik mit leistungsfähiger Detektion und flexiblen analytischen Erweiterungen. Sie eignen sich für Anwendungen in der Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Halbleiterforschung, Werkstoffprüfung und den Biowissenschaften.
Die GeminiSEM-Serie ermöglicht Bildgebung mit Auflösungen im Subnanometerbereich, auch bei niedrigen Beschleunigungsspannungen. Dadurch lassen sich feine Oberflächenstrukturen und empfindliche Proben mit hoher Detailauflösung untersuchen. Die Kombination aus Inlens-Detektoren, variablen Betriebsbedingungen und unterschiedlichen Elektronenoptiken unterstützt sowohl die oberflächensensitive Bildgebung als auch die analytische Charakterisierung.
Die Produktfamilie umfasst ZEISS GeminiSEM 360, 460 und 560. Das GeminiSEM 360 ist auf vielseitige Untersuchungen ausgerichtet, das GeminiSEM 460 auf anspruchsvolle Materialanalytik und automatisierte Messabläufe. Das GeminiSEM 560 verwendet die Gemini-3-Elektronenoptik und bietet besonders hohe Auflösung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen. Je nach Konfiguration können die Systeme mit EDS/EDX, EBSD und weiteren analytischen Verfahren erweitert werden.
- FE-REM / FE-SEM mit Feldemissions-Elektronenquelle
- Modelle GeminiSEM 360, 460 und 560
- Auflösung bis 0,5 nm bei 15 kV (GeminiSEM 560)
- Bis 0,4 nm bei 15 kV mit DCV (digital aufbereitete Auflösung)
- 0,8 nm bei 1 kV (GeminiSEM 560, ohne DCV)
- Beschleunigungsspannung 0,02–30 kV
- Vergrösserung bis 2.000.000×
- Hochvakuum und NanoVP für variable Druckbedingungen
- Inlens-SE- und Inlens-BSE-Detektion
- Erweiterbar mit EDS/EDX, EBSD und weiteren Analyseverfahren
- Motorisierter Probentisch und automatisierte Messabläufe
- Smart Autopilot beim GeminiSEM 560
Webinar-Tipp:
In diesem Webinar erfahren Sie, wie die ZEISS Gemini 3 Elektronensäule diese Herausforderungen adressiert. Die Kombination aus der neuen Nano-twin-Linse und Smart Autopilot, einer modernen Engine zur automatisierten Optimierung der Elektronenoptik, ermöglicht hochauflösende Oberflächenaufnahmen mit einer Auflösung im Sub-Nanometerbereich – selbst bei nichtleitenden und magnetischen Proben.
GeminiSEM Familie
ZEISS GeminiSEM steht für mühelose Bildgebung mit einer Auflösung im Subnanometerbereich. Diese FE-SEMs (Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope) vereinen herausragende Bildgebung und Analytik. Dank Innovationen in der Elektronenoptik und einem neuen Kammerdesign profitieren Sie von besserer Bildqualität, Benutzerfreundlichkeit und Flexibilität. Erstellen Sie Subnanometer-Bilder unter 1 kV ohne Immersionslinse. Entdecken Sie drei einzigartige Ausführungen der ZEISS Gemini-Elektronenoptik.
GeminiSEM 360, 460 und GeminiSEM 560 im Vergleich
Technische Spezifikationen
|
GeminiSEM 360 |
GeminiSEM 460 |
GeminiSEM 560 |
|
|---|---|---|---|
|
Elektronenoptik |
Gemini 1 |
Gemini 2 |
Gemini 3 |
|
Auflösung bei 15 kV |
0,7 nm |
0,7 nm |
0,5 nm |
|
Auflösung bei 1 kV |
1,2 nm |
1,1 nm |
0,8 nm |
|
Auflösung bei 15 kV mit DCV |
0,5 nm |
0,5 nm |
0,4 nm |
|
Beschleunigungsspannung |
0,02–30 kV |
0,02–30 kV |
0,02–30 kV |
|
Schwerpunkt |
Vielseitige Bildgebung |
Analytik und Automatisierung |
Oberflächenbildgebung bei niedrigen Spannungen |
Häufige Fragen
Was sind die Unterschiede zwischen dem GeminiSEM und einem SIGMA?
Die ZEISS GeminiSEM- und ZEISS SIGMA-Systeme unterscheiden sich vor allem hinsichtlich Auflösung, Automatisierungsgrad, Leistungsfähigkeit bei niedrigen Beschleunigungsspannungen und Investitionskosten.
GeminiSEM – Vorteile:
Das ZEISS GeminiSEM ist für höchste Ansprüche an Auflösung und Bildqualität konzipiert. Es bietet eine bessere Auflösung als das SIGMA und erzielt insbesondere bei niedrigen Beschleunigungsspannungen (Low-kV) eine überlegene Abbildungsleistung. Der integrierte NanoVP-Modus ermöglicht zudem die Untersuchung von nichtleitenden oder empfindlichen Proben unter variablen Druckbedingungen.
Durch zahlreiche Automatisierungsfunktionen, wie die automatische Fokussierung und Strahlausrichtung, wird die Bedienung vereinfacht und die Reproduzierbarkeit von Messergebnissen verbessert. Darüber hinaus ermöglicht die leistungsfähige Elektronenoptik eine höhere Arbeitsgeschwindigkeit und einen effizienteren Workflow bei anspruchsvollen Untersuchungen.
GeminiSEM – Einschränkungen:
Der wesentliche Nachteil des GeminiSEM sind die höheren Anschaffungs- und Investitionskosten im Vergleich zum SIGMA.
SIGMA – Vorteile:
Das ZEISS SIGMA bietet ein sehr gutes Verhältnis von Leistung zu Investitionskosten und stellt eine wirtschaftlich attraktive Lösung für ein breites Anwendungsspektrum dar. Es eignet sich sowohl für Routineuntersuchungen als auch für anspruchsvolle analytische Aufgaben und bietet dabei eine hohe Flexibilität hinsichtlich der verfügbaren Detektoren und Erweiterungsoptionen.
SIGMA – Einschränkungen:
Im direkten Vergleich zum GeminiSEM erreicht das SIGMA eine geringere Auflösung und zeigt insbesondere bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine reduzierte Leistungsfähigkeit. Zudem ist die Arbeitsgeschwindigkeit bei komplexen Untersuchungen geringer, und der Automatisierungsgrad fällt niedriger aus. Dadurch sind mehr manuelle Eingriffe bei der Strahljustierung und Optimierung der Aufnahmebedingungen erforderlich.
Anwendungsbeispiele
Vergleich: SE BSE Silber Nanopartikel
Vergleich: SE BSE Zeolite Ag
STEM Maushirngewebe
STEM Maushirngewebe mit Myelin
Wir freuen uns auf Ihre Anfrage!
