Optische Mikroskopie/ SEM
Optische Mikroskopie/ SEM
ZEISS Systeme decken für die Bildaufnahme Dimensionsbereiche vom Milimeter bis zum Nanometer ab. Die Navigation und Resultate der verschiedenen Systeme lassen sich korrelieren, vergleichen und auswerten und ermöglichen so eine ganzheitliche Auswertung der Proben. Gerne informieren wir Sie zu möglichen Lösungen und stellen Ihnen gemäss Bedarf eine passende Konfiguration zusammen.
Durch das breite Portfolio von Carl Zeiss mit Licht-, Röntgen sowie Elektronenmikroskopen ergeben sich hervorragende Möglichkeiten zur korrelativen Mikroskopie. Typische Beispiele sind die Partikelanalyse, Sauberkeitsanalyse oder Schadensanalysen bei welchen verschiedene Methoden komplementäre Ergebnisse erzeugen.
Wir freuen uns auf Ihre Anfrage!
