3D-Röntgenbildgebung für die Materialforschung

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Sprache: Englisch  I  Gebiet: XRM Röntgenmikroskopie

Sie erfahren mehr über:

• hochauflösende Röntgenmikroskopie (XRM) und industrielle Computertomographie (CT)
• zerstörungsfreie sichtbare innere Strukturen
• die 3D-Röntgenbildgebung in der Materialforschung 

ZEISS 3D-Röntgenbildgebungslösungen für die Materialcharakterisierung über mehrere Längenskalen hinweg

Forscher aus Wissenschaft und Industrie treiben die Entwicklung fortschrittlicher Werkstoffe für Anwendungen der nächsten Generation voran. Von zentraler Bedeutung für diese Durchbrüche ist die Fähigkeit, durch zerstörungsfreie 3D-Charakterisierung über mehrere Längenskalen hinweg Zusammenhänge zwischen Struktur, Eigenschaften und Verarbeitung zu ermitteln.

Die 3D-Röntgenbildgebung – einschliesslich hochauflösender Röntgenmikroskopie (XRM) und industrieller Computertomographie (CT) – hat sich zu einem leistungsstarken Werkzeug für die Materialforschung entwickelt. Die XRM ermöglicht Untersuchungen im Mikro- bis Nanobereich mit aussergewöhnlicher Auflösung und hohem Kontrast, während die industrielle CT grössere, repräsentative Volumina unter realen Bedingungen abbildet. Gemeinsam decken sie Poren, Risse, Einschlüsse, Grenzflächen, mikrostrukturelle Heterogenität, Schadensentwicklung und Fertigungsfehler auf – und stellen mithilfe von In-situ- und korrelativen Arbeitsabläufen einen Zusammenhang zwischen der inneren Struktur, der Leistungsfähigkeit, der Verarbeitungsgeschichte und den Versagensmechanismen her.

Dieses Webinar beleuchtet, wie XRM und CT zusammenwirken, um neue Erkenntnisse zu beschleunigen, wobei der Schwerpunkt auf den einzigartigen Fähigkeiten der XRM liegt.

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Sprecher: Dr. Hrishikesh Bale 

Market Solutions Manager, Engineering Materials Carl Zeiss Research Microscopy Solutions

Herr Hrishikesh Bale ist Market Solutions Manager für Engineering Materials bei Carl Zeiss Microscopy Inc. und verfügt über mehr als 20 Jahre Erfahrung im Bereich moderner Verbund- und Strukturwerkstoffe. Sein Schwerpunkt liegt auf der Materialcharakterisierung mittels In-situ-Mikro- und Nanomechanik in Verbindung mit Röntgen-Computertomographie sowie auf multimodalen 3D-Bildgebungsverfahren.

Vor seinem Eintritt bei Carl Zeiss Microscopy im Jahr 2014 forschte er am Lawrence Berkeley National Laboratory und an der UC Berkeley an CMC-Werkstoffen für Hochtemperaturanwendungen. Er promovierte 2010 in Materialwissenschaften an der Oklahoma State University mit Schwerpunkt auf Synchrotron-Röntgentechniken.

Sprecher: Abhijeet Ranjan 

Regional Application Manager

Herr Abhijeet Ranjan ist ein versierter NDT-Experte mit 17 Jahren umfassender Erfahrung in der Gewährleistung von Produktintegrität, Qualität und Einhaltung von Sicherheitsvorschriften in verschiedenen Branchen.

Er beherrscht sowohl konventionelle als auch fortschrittliche NDT-Verfahren. Er verfügt über einen Bachelor-Abschluss in Maschinenbau und eine Zertifizierung als Strahlenschutzbeauftragter (RSO) des Bhabha Atomic Research Centre (BARC). Er ist zertifiziertes ASNT-Mitglied.