SIGMA
SIGMA
Feldemissions-Elektronenmikroskop (FE-REM) Sigma 360 und Sigma 560
Das Feldemissions-Elektronenmikroskop (FE-REM) Sigma 360 und Sigma 560 bietet ein ausgezeichnetes Preis-Leistungs-Verhältnis. Führen Sie Ihre Elementanalyse schnell und komfortabel mit der klassenbesten EDS-Geometrie durch. Stützen Sie sich auf präzise, reproduzierbare Resultate.
Kombinieren Sie FE-REM-Technologie mit erweiterten Analysen. Profitieren Sie von der bewährten Gemini-Elektronenoptik. Wählen Sie aus einer Vielzahl von Detektoroptionen: Sie können Partikel, Oberflächen und Nanostrukturen abbilden.
Strukturieren Sie Ihre Bildgebungs- und Analyseroutinen und steigern Sie die Produktivität.
Sigma Familie
Die ZEISS Sigma-Familie vereint leistungsstarke FE-SEM-Technologie mit einer intuitiven Bedienung für effiziente Bildgebung und Analyse. Dank hochauflösender Abbildung bei niedrigen Spannungen und flexibler Detektorkonfiguration eignet sich Sigma für ein breites Spektrum an Anwendungen – von Materialforschung und Qualitätskontrolle bis hin zu biologischen und geologischen Proben.
Mit NanoVP lite ermöglicht Sigma zudem hochwertige Aufnahmen und Analysen von nichtleitenden Proben. Die Modelle Sigma 360 und Sigma 560 bieten leistungsstarke Lösungen für zentrale Bildgebungszentren sowie anspruchsvolle Analyseaufgaben mit hohem Durchsatz.
Häufige Fragen
Was sind die Unterschiede zwischen dem ZEISS SIGMA und einem ZEISS EVO ?
Die ZEISS SIGMA- und ZEISS EVO-Systeme unterscheiden sich vor allem hinsichtlich Auflösung, analytischer Leistungsfähigkeit, Bedienkomfort und Infrastrukturanforderungen.
ZEISS SIGMA – Vorteile:
Das ZEISS SIGMA ist auf höchste Bildqualität und analytische Performance ausgelegt. Es bietet eine höhere Auflösung sowie eine höhere Strahlintensität als das EVO und ermöglicht dadurch eine detailliertere Darstellung feiner Strukturen. Insbesondere bei niedrigen Beschleunigungsspannungen (Low-kV) überzeugt das System durch eine bessere Empfindlichkeit und Auflösung. Die integrierte In-Lens-Detektion ermöglicht eine hochwertige Oberflächenabbildung, während beim EVO vergleichbare Detektionsmöglichkeiten eingeschränkter sind.
Das Sigma 560 ist standardmässig mit einem 5-achsigen euzentrischen Probentisch ausgestattet, der eine präzise Probenpositionierung ermöglicht. Für analytische Anwendungen steht zudem eine optionale STEM-Erweiterung zur Verfügung. Ein optionaler Airlock erlaubt einen schnellen und sauberen Probentransfer ohne vollständiges Belüften der Kammer. Darüber hinaus zeichnet sich das System durch eine einfachere Justierung und ein komfortableres Handling des Elektronenstrahls aus.
ZEISS SIGMA – Einschränkungen:
Für den Betrieb des Systems werden Druckluft sowie eine externe Kühleinheit benötigt. Zudem sind die Kosten für die Elektronenquelle (Kathode) sowie deren Austausch höher als beim EVO.
ZEISS EVO – Vorteile:
Das ZEISS EVO ist ein robustes und vielseitiges REM-System mit vergleichsweise geringeren Betriebsanforderungen. Die Kathode kann vom Anwender selbst gewechselt werden, wodurch Wartungsaufwand und Servicekosten reduziert werden. Dank luftgekühlter Ausführung ist keine zusätzliche Kühleinheit erforderlich. Die Doppelkondensor-Säule sorgt für eine stabile Strahlführung und unterstützt den flexiblen Einsatz in unterschiedlichen Anwendungsbereichen.
ZEISS EVO – Einschränkungen:
Im Vergleich zum SIGMA bietet das EVO eine geringere Auflösung und Strahlintensität. Auch die Bildqualität und Empfindlichkeit bei niedrigen Beschleunigungsspannungen sind eingeschränkt. Die Justierung des Elektronenstrahls ist aufwendiger und weniger komfortabel als beim SIGMA. Dadurch eignet sich das EVO insbesondere für Routineanwendungen, während das SIGMA bei anspruchsvollen hochauflösenden Untersuchungen Vorteile bietet.
Anwendungsbeispiele
Sedimentprobe
Fasern belegt mit Silberpartikeln
Pollen der Vergissmeinnicht Blume
Al2O3 Nanospheres
Wir freuen uns auf Ihre Anfrage!
