Webinare

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OxfordInstruments EDX

Oxford Instruments / EDX/EBSD Analytik

Praktischer Leitfaden zur EDS-Analyse mit hoher Zählrate

Hohe Zählraten in der EDS-Analyse ermöglichen nicht nur schnellere Datenerfassung, sondern auch tiefere Einblicke in die Probenzusammensetzung. In diesem Webinar erfahren Sie, welche SEM- und EDS-Parameter entscheidend sind, welche Herausforderungen bei hohen Zählraten auftreten und wie moderne Technologien diese überwinden. Anhand praxisnaher Beispiele zeigen wir, wie sich Datenqualität sicherstellen und selbst kleinste Elementvariationen zuverlässig nachweisen lassen.

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Unity bex EDX Oxford Instruments

Oxford Instruments / EDX/EBSD Analytik

Einführung: BEX-Bilddetektor für Rasterelektronenmikroskope (REM)

Der Unity-BEX-Detektor kombiniert Rückstreuelektronen- und Röntgensignale in einem einzigen Bildgebungsverfahren. Die gleichzeitige Darstellung von Topografie und Elementverteilung in Farbbildern eröffnet neue Möglichkeiten für die Materialanalyse in der Rasterelektronenmikroskopie.

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brightfield circuit board

Zeiss / LM Lichtmikroskopie

Potenzial der Lichtmikroskopie in der Materialwissenschaft

Entdecken Sie die Welt der Lichtmikroskopie – von Grundlagen bis zu modernen Premium-Systemen. Erhalten Sie einen kompakten Überblick über Mikroskoptypen, Kontrastverfahren und Anwendungen in Materialwissenschaften, Biologie und Industrie, um die passende Lösung für Ihre Anforderungen zu finden.

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nanofabrication

Zeiss / REM Elektronenmikroskopie

Hochwertige Nanostrukturierung und Nanolithographie mittels Elektronenstrahllithographie

Erfahren Sie in diesem aufgezeichneten Webinar, wie die Elektronenstrahllithographie (EBL) eine hochpräzise Nanostrukturierung ermöglicht und welche Lösungen für eine zuverlässige und reproduzierbare Nanolithographie zur Verfügung stehen. Zudem erhalten Sie Einblicke in die Erweiterung von ZEISS Gemini FE-SEM- und Crossbeam-Systemen mit RAITH Upgrade-Kits sowie praxisnahe Anwendungsbeispiele aus der Nanofabrikation und Materialforschung.

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Oxford Instruments / Raman

Raman-Lösungen für Halbleiter, Werkstoffe und darüber hinaus

Erfahren Sie in dieser On-Demand-Veranstaltung, wie moderne Raman-Spektroskopie und konfokale Raman-Mikroskopie präzise chemische und strukturelle Analysen ermöglichen. Anhand praxisnaher Anwendungsbeispiele aus Halbleitertechnik, Materialwissenschaften, Chemie und Biowissenschaften zeigt Dr. Andrew Carpenter, wie Sie die passende Raman-Lösung für die Anforderungen Ihres Labors auswählen.

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Zeiss / REM Elektronenmikroskopie

Webinarreihe Fehlerlokalisierung in der Halbleiteranalyse

Erhalten Sie einen praxisnahen Einblick in moderne Methoden der Defektlokalisierung in Halbleitern. Die dreiteilige Webinarreihe behandelt passiven Spannungskontrast (PVC), Nanoprobing und leitfähiges AFM und zeigt, wie Fehler in komplexen Bauelementen präzise identifiziert und analysiert werden können. Ideal für Fachleute aus Halbleiterfertigung, Fehleranalyse und Forschung.

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zen product

Zeiss / REM Elektronenmikroskopie

Programmiersprache Python in der ZEN-Software

Erfahren Sie, wie Sie mit Python und der ZEISS ZEN-Software Bildanalyse-Workflows automatisieren, individuell anpassen und effizienter gestalten. Anhand praxisnaher Demonstrationen zeigt Sebastian Rhode die Integration von Python in ZEN, die Verarbeitung von ZEISS CZI-Bilddateien mit Open-Source-Tools sowie konkrete Anwendungsbeispiele aus der Mikroskopie und wissenschaftlichen Bildgebung.

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Zeiss / REM Elektronenmikroskopie

TEM-Lamellenpräparation mit dem ZEISS Crossbeam FIB-SEM

Erfahren Sie, wie Sie mit automatisierten TEM-Präparationsworkflows hochwertige TEM-Lamellen effizient und reproduzierbar erstellen. In diesem Webinar zeigen Prof. Dr. Dariusz Jarząbek und Martina Schenkel praxisnah, wie ZEISS Crossbeam FIB-SEM und ZEN Core die Probenpräparation für anspruchsvolle Materialien vereinfachen, den Probendurchsatz erhöhen und eine optimale Grundlage für hochauflösende TEM-Analysen schaffen.

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WITec RISE Hematite

Oxford Instruments / EDX/EBSD Analytik / Raman

Konfokale Raman-Bildgebung: Anwendungen und zugrunde liegende Prinzipien

Erfahren Sie, wie die konfokale Raman-Bildgebung eine zerstörungsfreie chemische Charakterisierung von Materialien ermöglicht. Dieses Webinar vermittelt die Grundlagen der Raman-Mikroskopie und zeigt anhand praxisnaher Beispiele Anwendungen in den Bereichen 2D-Materialien, Halbleiter sowie Pharma- und Life-Science-Forschung.

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WITec RISE Hematite

Oxford Instruments / EDX/EBSD Analytik / Raman

Chemische und strukturelle Informationen mit Raman, EDS und EBSD erschliessen

Erfahren Sie, wie die Kombination aus Raman-Bildgebung, Rasterelektronenmikroskopie (SEM), Energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS) und Elektronenrückstreubeugung (EBSD) ein umfassendes Verständnis von Materialeigenschaften ermöglicht. Anhand praxisnaher Beispiele aus der Batterieforschung, Materialwissenschaft und weiteren Anwendungsbereichen zeigen unsere Experten, wie sich chemische, strukturelle und kristallographische Informationen effizient miteinander verknüpfen lassen.

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OxfordInstruments EDX

Oxford Instruments / EDX/EBSD Analytik

Entdecken Sie das unendliche Potenzial von EDS

Entdecken Sie die Möglichkeiten der neuen Infinity EDS-Detektoren von Oxford Instruments. Erfahren Sie, wie moderne Detektortechnologie und intelligente Tru-Q IQ-Datenverarbeitung die Analyse von Nanostrukturen sowie den Nachweis von Spuren- und Minor-Elementen schneller, präziser und effizienter machen.

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EDS_Geology_Oxford_Instruments

Oxford Instruments / EDX/EBSD Analytik

Werkzeuge für Geowissenschaftler

Erfahren Sie, wie moderne Mikroanalyse mit EDS, BEX und intelligenter Software geowissenschaftliche Untersuchungen effizienter macht. Anhand eines Praxisbeispiels vom Mt. Pinatubo lernen Sie, wie chemische Daten in mineralogische Informationen überführt und komplexe Gesteinsproben automatisiert analysiert werden können.

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