Webinare

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OxfordInstruments EDX

Oxford Instruments / EDX/EBSD Analytik

SEM-EDS-Merkmalsanalyse mit Ultim Max und AZtecFeature

Erfahren Sie, wie Ultim Max EDS-Detektoren und AZtecFeature für die automatisierte Merkmalsanalyse im Rasterelektronenmikroskop eingesetzt werden. Das Webinar zeigt, wie sich heterogene Materialien effizient chemisch und strukturell charakterisieren lassen und welche Faktoren für eine zuverlässige Daten- und Ergebnisqualität entscheidend sind.

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top lowkv GeminiZEISS3

Zeiss / REM Elektronenmikroskopie

ZEISS Gemini 3: Echte Abbildung der Probenoberfläche bei niedrigen und extrem niedrigen kV-Werten

Erfahren Sie, wie die ZEISS Gemini 3 Elektronensäule hochauflösende SEM-Bildgebung bei niedrigen und ultraniedrigen kV ermöglicht. Das Webinar zeigt, wie Sie nichtleitende und magnetische Proben ohne Oberflächenbeschichtung hochauflösend untersuchen, den Materialkontrast optimieren und unverfälschte Informationen über die tatsächliche Probenoberfläche gewinnen.

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3dXray materialanalysis

Zeiss / XRM Röntgenmikroskopie

3D-Röntgenbildgebung für die Materialforschung

Entdecken Sie in diesem Webinar, wie ZEISS 3D-Röntgenbildgebung mit hochauflösender Röntgenmikroskopie (XRM) und industrieller Computertomographie (CT) eine präzise, zerstörungsfreie 3D-Materialcharakterisierungüber verschiedene Längenskalen ermöglicht. Erhalten Sie detaillierte Einblicke in Mikrostrukturen, Poren, Risse, Einschlüsse, Grenzflächen und Fertigungsdefekte. Erfahren Sie zudem, wie moderne In-situ-Analysen und korrelative 3D-Bildgebung Materialstrukturen mit Eigenschaften, Herstellungsprozessen und Versagensmechanismen verknüpfen – mit besonderem Fokus auf die Möglichkeiten der XRM.

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Unity bex EDX Oxford Instruments

Oxford Instruments / EDX/EBSD Analytik / REM Elektronenmikroskopie

Einführung: BEX-Bilddetektor für Rasterelektronenmikroskope (REM)

Der Unity-BEX-Detektor kombiniert Rückstreuelektronen- und Röntgensignale in einem einzigen Bildgebungsverfahren. Die gleichzeitige Darstellung von Topografie und Elementverteilung in Farbbildern eröffnet neue Möglichkeiten für die Materialanalyse in der Rasterelektronenmikroskopie.

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768423657 1 Yu Wen Scientific Imaging Competition

Oxford Instruments / EDX/EBSD Analytik / REM Elektronenmikroskopie

Einführung in die Elektronenrückstreubeugung (EBSD)

Erfahren Sie die Grundlagen der Elektronenrückstreubeugung (EBSD) und lernen Sie, wie sich Kristallorientierungen, Phasen und Mikrostrukturen im Rasterelektronenmikroskop analysieren lassen. Das Webinar zeigt die Funktionsweise der Methode sowie aktuelle Entwicklungen in Hard- und Software für eine moderne Materialcharakterisierung.

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aztec feature EDX OxfordINstruments

Oxford Instruments / EDX/EBSD Analytik

AZtecFeature: Geschwindigkeit der Partikelanalyse

Erfahren Sie, wie die automatisierte Partikelanalyse mit AZtecFeature den gesamten SEM-Workflow von der Probenaufnahme bis zur Berichterstellung beschleunigt. Lernen Sie, wie moderne EDS-Technologie und intelligente Software einen hohen Probendurchsatz sowie eine präzise und reproduzierbare Partikelcharakterisierung ermöglichen.

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EDS map Mg

Oxford Instruments / EDX/EBSD Analytik

Einführung: EDS/EDX-Grossflächenkartierung im REM

Erfahren Sie, wie moderne Mikroanalyse mit EDS, BEX und intelligenter Software geowissenschaftliche Untersuchungen effizienter macht. Anhand eines Praxisbeispiels vom Mt. Pinatubo lernen Sie, wie chemische Daten in mineralogische Informationen überführt und komplexe Gesteinsproben automatisiert analysiert werden können.

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brightfield circuit board

Zeiss / LM Lichtmikroskopie

Potenzial der Lichtmikroskopie in der Materialwissenschaft

Entdecken Sie die Welt der Lichtmikroskopie – von Grundlagen bis zu modernen Premium-Systemen. Erhalten Sie einen kompakten Überblick über Mikroskoptypen, Kontrastverfahren und Anwendungen in Materialwissenschaften, Biologie und Industrie, um die passende Lösung für Ihre Anforderungen zu finden.

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WITec RISE Hematite

Oxford Instruments / EDX/EBSD Analytik / Raman

Chemische und strukturelle Informationen mit Raman, EDS und EBSD erschliessen

Erfahren Sie, wie die Kombination aus Raman-Bildgebung, Rasterelektronenmikroskopie (SEM), Energiedispersiver Röntgenspektroskopie (EDS) und Elektronenrückstreubeugung (EBSD) ein umfassendes Verständnis von Materialeigenschaften ermöglicht. Anhand praxisnaher Beispiele aus der Batterieforschung, Materialwissenschaft und weiteren Anwendungsbereichen zeigen unsere Experten, wie sich chemische, strukturelle und kristallographische Informationen effizient miteinander verknüpfen lassen.

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OxfordInstruments EDX

Oxford Instruments / EDX/EBSD Analytik

WDS-Datenqualität mit einem modernen EDS-Detektor

Die Grenzen zwischen EDS und WDS verschwimmen zunehmend: Moderne Technologien ermöglichen heute auch komplexe Analysen zuverlässig mit EDS. Selbst anspruchsvolle Aufgaben wie Peak-Überlagerungen oder Spurenelementanalysen lassen sich schnell, vielseitig und benutzerfreundlich lösen.
Sehen Sie sich das Webinar unseres Partners Oxford Instruments an und erfahren Sie mehr.

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Webinar ZEISS Röntgenmikroskopie und Fortschritte

Zeiss / XRM Röntgenmikroskopie

Röntgenmikroskopie und Fortschritte in der Materialwissenschaft

Die Röntgenmikroskopie ist eine zentrale Methode der Materialwissenschaft und ermöglicht zerstörungsfreie 3D-Einblicke in Mikrostrukturen. So lassen sich Veränderungen durch Verarbeitung, Belastung oder Umwelteinflüsse sichtbar machen.
Das Webinar zeigt aktuelle technologische Fortschritte sowie praxisnahe Anwendungsbeispiele.

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Webinar ZEISS Contrast Imaging TEM

Zeiss / REM Elektronenmikroskopie

CECCI: TEM-ähnliche Defektbildgebung mit dem SEM

Einführung in die ZEISS Gemini-REM-Technologie und die Methode der kontrollierten Elektronenkanalisierungskontrastbildgebung (cECCI). Lernen Sie, wie sich Versetzungen und Stapelfehler in Volumenproben sichtbar machen lassen und welche physikalischen Prinzipien dahinterstehen. Erfahren Sie zudem den optimalen Workflow – von den richtigen Strahlbedingungen bis zur kristallographischen Analyse – sowie die Vorteile gegenüber TEM, insbesondere bei Probenvorbereitung und In-situ-Untersuchungen.

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Cartesian Stage 2 Evo15 Sigma360 Solo View2 Back
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