WDS-Datenqualität mit einem modernen EDS-Detektor
WDS-Datenqualität mit einem modernen EDS-Detektor
Oxford Instruments / EDX/EBSD Analytik
Webinar Recording
WDS-Datenqualität mit einem modernen EDS-Detektor
Dauer: 60 mins I Sprache: Englisch I Gebiet: NanoAnalysis
Dieses Webinar demonstriert die neuen Möglichkeiten der EDS-Detektoren bei Anwendungen, die bisher dem WDS vorbehalten waren.
Die SEM-WDS-Technologie bot die höchste spektrale Auflösung und die niedrigsten Nachweisgrenzen und war als Mittel zur qualitativ hochwertigen Quantifizierung weithin anerkannt. Die zunehmende Leistungsfähigkeit von EDS-Detektoren hat jedoch den Vorteil eines WDS-Systems am SEM deutlich verringert. Die Anwendungsbereiche, in denen die SEM-WDS-Analyse traditionell das einzige Mittel zur Gewinnung zuverlässiger Daten war, werden immer seltener.
Vor diesem Hintergrund zielt das Webinar darauf ab, die Einsatzmöglichkeiten von EDS-Detektoren, unterstützt durch die Tru-Q IQ-Spektrumverarbeitung, für Anwendungen zu demonstrieren, bei denen bisher WDS bevorzugt wurde.
Dazu gehören:
- Peak-Überlappungen
- Analyse leichter Elemente
- Spurenelemente
- Quantitative Analyse
Gleichzeitig können wir auch die erheblichen Verbesserungen in Bezug auf Geschwindigkeit, Vielseitigkeit und Benutzerfreundlichkeit nutzen, die die neueste EDS-Technologie mit sich bringt.
Sehen Sie sich dieses Webinar an, wenn Sie einen direkten Vergleich zwischen EDS und WDS suchen oder wissen möchten, wie Sie Ihre EDS-Daten auf WDS-Standard bringen können.
Sie erfahren:
- Die Gründe für die Einstellung unseres SEM-WDS-Systems
- Wie die Detektoren Ultim Max ∞ EDS und Unity BEX für die Durchführung herkömmlicher WDS-Anwendungen bestens geeignet sind
- In welchen Fällen die Spektrenverarbeitung mit Tru-Q IQ entscheidend ist, um Peak-Überlappungen aufzulösen und qualitativ hochwertige quantitative Analysen zu erstellen
- Praktische Anleitungen zur Erzielung einer hohen WDS-Datenqualität mit einem EDS-Detektor
